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試験評価技術/組成分析 研究開発トップへ 2019年度の一覧へ

T-26
2019

X線回折による様々な測定・解析技術


技術のポイント

X線を使用し、様々な光学系を組み合わせることで目的とする情報を取得することが可能



目的および対応測定手法




適用分野

・セラミックス、金属等無機材料全般の評価
・各種構造および分離膜、電池等機能性材料の開発
・半導体の欠陥評価
・非晶質材料の構造評価



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