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T-27
2019

高温X線回折によるin-situ測定・解析技術


技術のポイント

高温環境下にてX線回折測定を実施し、常温測定では得られない結晶相転移等の影響をリアルタイムで測定可能



保有設備

仕様
X線出力 : 45 kV 40 mA
制御温度 : 25〜1200 ℃
試料加熱 : 間接加熱方式
ヒーター : W(タングステン)
温度測定 : Pt 10% RhPt熱電対
雰囲気 : 真空(10-4 mbar)、空気、不活性ガス(N2、Ar)
最大圧力 : 大気圧+1 bar
入射角 : 0〜164 deg 2θ
試料皿 : Al2O3(標準)
試料台 : Al2O3
試料サイズ : 最大Φ16 mm

高温X線回折試験結果事例
LaAlO3粉末の高温X線回折試験結果
θ-2θ:20-100 deg 試料雰囲気:Air、大気圧昇温温度:5 ℃/min キープ時間:30 min

高温XRD測定でLaAlO3の三方晶から立方晶に相転移を確認


適用分野

・高温環境下における結晶構造安定性評価
・セラミックス、金属等無機材料全般の結晶構造評価
・各種構造および分離膜、電池等機能性材料の開発



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