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T-36
2019

新規汎用TEM JEM-F200のご紹介


技術のポイント

最新の汎用TEMで低倍から原子レベルまで観察可能
大面積EDS検出器を2本搭載しており元素分析に最適



装置概要

日本電子(JEOL) JEM-F200
主な仕様
《TEM本体》
・電子銃: Cold-FE電子銃
・ポールピース: HRP
・TEM分解能: 0.23nm(構造像) @200kV
・STEM分解能: 0.16nm@200 kV
・対応加速電圧: 200kV、120kV、80kV、60kV
収差補正器なし
《各種検出器》
・EDS: 日本電子JED-2300 SDD
  100 mm2 ×2本(1.7 str
Thermo Scientific Pathfinder
・EELS: Gatan Enfina(移設)
・CCD: Gatan US1000、OriusSC200(移設)
・STEM明視野/暗視野検出器、反射電子検出器


適用分野

・TEM/STEM観察全般、EDS元素分析、EELS測定
・オープンラボ、機器利用にも対応

謝辞 本装置の導入にあたりご尽力を頂きました日本電子(株)の関係各位に感謝申し上げます。



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