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ナノカーボン


 主力機器である透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscopy : TEM)を駆使して、各種材料のミクロ(10-6m)〜ナノ(10-9m)サイズにおける微構造解析を行っています。微構造は、材料の各種特性と密接な関係を持っており、より優れた材料の設計・開発のためには欠かせない技術と言えるでしょう。
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高配向・高密度カーボンナノチューブ膜
イメージ 従来の製造方法とは全く異なる【SiCの表面分解法】を開発し、触媒成分を全く含まない高配向カーボンナノチューブ(CNT)膜を作製することに成功しました。このCNT膜について様々な角度から評価し、生成機構の解明を行っています
研究成果
SiC表面分解法とは? NEW
ジグザグ型カーボンナノチューブの選択成長 NEW
カーボンナノチューブの大面積とパターニング NEW
高配向カーボンナノチューブ膜の電界電子放出デバイスの開発
主な使用装置
JEM-4000FX, EM-002B, JEM-2010
 



保有機器
透過型電子顕微鏡(TEM):6台

EM-002B(トプコン製)
EM-002B 高い分解能とEELS、EDSといった優れた組成分析機器を備え、材料の微構造を高度に解析できます

JEM-2010(日本電子製)
JEM-2010 高い分解能による通常の微構造解析の他に、高感度のTVカメラを備えており、【低電子線量観察】にも威力を発揮します

JEM-4000FX(日本電子製)
JEM-4000FX 自主開発の2000℃級レーザー加熱ホルダーや、ヘリウム冷却ホルダー、応力印加ホルダーを備え、リアルタイムで像観察しながら材料の変化を捉える、【動的その場観察】が行えます
 

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