研究成果

1脱炭素

• R-1カーボンナノチューブ自立膜のガス透過特性

  動画あり

• R-2酸素極側界面微細構造に及ぼすLSCFへの異種元素添加の影響

  動画あり

• R-3エントロピー安定化による耐熱性酸化物の結晶構造制御

  動画あり

• R-4Ca-Mg-Fe-Al-Si-O溶融物に対する環境遮蔽膜の耐食設計
• R-5Ca-Mg-Fe-Al-Si-O溶融物による多結晶Yb₃Al₅O₁₂の微構造変化
• R-6内殻電子励起スペクトル計算を用いたナノ構造分析
• R-7アルミナの粒界移動の起源
• R-8高温水蒸気二相環境に曝された金属膜の酸化に伴う裏面からの水素放出
• R-9亜臨界／超臨界水中における光ファイバーの光透過損失のその場評価

  動画あり

2次世代電池

• R-10チタン酸リチウムランタン単結晶による高リチウムイオン伝導の実証

  動画あり

• R-11全固体電池用固体電解質におけるLiイオン伝導機構
• R-12Liイオン電池用酸化物固体電解質-正極膜の作製と構造解析
• R-13全固体Naイオン電池のオペランドSEM-EDS観察
• R-14燃料電池空気極材料LaCoO₃のH⁺トラッピングエネルギー解析
• R-15酸フッ化物Pb₂OF₂におけるフッ化物イオン拡散機構

  動画あり

• R-16フッ化物電池合材負極In/LaF₃のS/TEM解析
• R-17ランタン酸ハロゲン化物中のハロゲン化物イオン伝導機構

3パワーデバイス

• R-18Ｘ線の異常透過を利用したGa₂O₃結晶の欠陥イメージング技術

  動画あり

• R-19モデルスクラッチによるGaNウエハ加工変質層厚の非破壊検査法開発
• R-20GaN結晶の光学特性に影響を及ぼす転位の構造評価
• R-21常圧プラズマを用いたアルミニウム表面の直接窒化技術

4バイオ

• R-22グラフェンサンドイッチ法による電子線低耐性試料の電子顕微鏡観察

  動画あり

• R-23擬似体液を用いたアパタイト形成能評価に関する国際規格の改定

5インフォマティクス

• R-24セラミックス部材製造プロセスのミクロ／マクロシミュレーション

  動画あり

• R-25JFCCにおける第一原理計算を基盤とするMIからMDXへの取り組み

  動画あり

6先進微構造解析

• R-26分割型STEM検出器を用いたゼオライト原子構造直接観察

  動画あり

• R-27HAADF STEM像のノイズ低減：原子位置計測における有効性
• R-28SrCrO₃への電子線照射による酸素欠損の導入とその挙動の観察
• R-29STEM-EELSによるエポキシの構造解析

試験評価技術

• T-0ファインセラミックスセンターの​試験評価、機器利用

1加工・プロセス

• T-1セラミックスの加工技術​
• T-2新規材料開発・研究に貢献する​セラミックス製造技術
• T-3噴霧熱分解法による​セラミックス粒子合成技術
• T-4電子ビームPVDによる​​先進汎用コーティング技術
• T-5高温過熱水蒸気処理技術​
• T-6焼結シミュレーションSinterPro​ -新材料開発の支援ツール-
• T-7低密度・低熱伝導率特性を有する​各種屈折率のシリカエアロゲル

2機械特性

• T-8機械特性に関する評価技術​
• T-9高温雰囲気における機械特性評価
• T-10SEPB法による​高靱性材料の破壊靭性評価
• T-11強化繊維の引張特性評価技術
• T-12炭素繊維等の樹脂との密着性評価

3熱特性

• T-13薄膜試料から断熱材までの​熱伝導率評価技術
• T-14フラッシュ法による​遮熱コーティング膜の熱伝導率評価
• T-15各手法による固体の比熱容量測定～低温から高温まで～
• T-16積分球を用いた反射法による​赤外線放射率の測定
• T-17高温X線回折を用いた​粉末試料の熱膨張率評価技術

4電気特性

• T-18ミリ波帯での高精度評価技術～５G通信、自動運転への貢献～
• T-19複合構造における​GHz帯 複素誘電率の抽出評価​
• T-20誘電材料の温度特性評価技術
• T-21液体材料における​誘電率の温度特性評価
• T-22誘電材料のミリ波帯評価技術
• T-23雰囲気制御下における​界面由来抵抗評価技術
• T-24燃料電池・固体電解質の​電気化学評価技術​

5構造特性

• T-25粉体および多孔質体の特性評価技術
• T-26サブナノ～ミクロンオーダーの​細孔径分布測定と機能性評価​
• T-27多孔質材料のガス透過率評価技術
• T-28X線CTによる材料評価技術
• T-29X線回折による​様々な測定・解析技術
• T-30高温X線回折によるIn-situ測定・解析技術​
• T-31機能性材料の構造･化学結合の​分析評価技術​​
• T-32高温環境下における​残留応力評価技術

6微構造解析

• T-33エッチピット法によるSiC結晶の​欠陥解析評価技術​
• T-34超高分解能走査電子顕微鏡（SEM）​を用いた低加速観察・分析技術
• T-35積層構造体の断面SEM観察用​試料調製技術
• T-36EBSD法を用いた​微細領域高精度歪み解析技術
• T-37EBSD-EDS同時検出による​結晶方位および相分離解析技術
• T-38FIB-SEMを用いた3次元構築
• T-39先進分析TEM JEM-F200のご紹介
• T-40大気圧走査電子気顕微鏡による​電気化学反応その場観察
• T-41ナノシールドによる​Naイオンの移動抑制技術

2023年度 研究成果集 PDF版

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