4研究成果／画期的微構造解析・処理技術

R-24

2021

分子スケール直接観察による有機配向膜の構造解析

アピールポイント

新規解析法で低電子線耐性材料内の欠陥構造を可視化
【技術シーズ：高分解能TEM観察像＋モアレ重畳解析】

課題

・分子結晶デバイス内の配向制御において局所構造解析が重要

・電子線照射損傷により電子顕微鏡法の適用が困難

解決手段

・低照射観察法による分子スケール構造像に対してモアレ重畳法を適用
→ モアレ重畳像内に生じるパターンによりわずかな周期構造の変化を可視化

成果・新規性

・有機分子エピタキシャル配向結晶内での特異な欠陥構造や配向のわずかな乱れをモアレ重畳法により可視化
→ 高結晶性配向膜の実現において重要な知見

・実験方法： Pt(dmg)₂/KBrの蒸着膜作製、高分解能TEM観察像＋モアレ重畳解析

★：結晶欠損部

期待される市場・応用

・有機電子デバイス、有機発光デバイスの配向制御

発表文献

K. Yoshida, Crystal Growth & Design 20 (2020) 7271-7275