試験評価

Testing & Evaluation Services

1-3.材料試験 | 電気特性

 誘電率、導電性(抵抗率)などの試験を行います。誘竜率は100Hz ~ 110GHzの広範囲領域の測定が可能で、特にGHz領域(マイクロ波、ミリ波)は測定の標準化の研究も行っており、JIS規格又はJIS規格案による高精度測定が可能です。5.6GHz ~ 110GHz領域は自由空間法による電波吸収特性の測定も可能です。

種別 項目 単位 単価(円)
試料調整
(電極処理)
高温用 1試料 26,000
室温用 1試料 4,000
誘電率測定
(ε,tanδ)
容量法(100Hz~100KHz)
室温 1試料 27,000
  追加1試料 14,000
100℃~500℃未満 1試料 37,000
500℃~1000℃ 1試料 40,000
追加温度水準 1水準毎 9,000 加算
容量法(100KHz~1MHz)
室温 1試料 27,000
  追加1試料 14,000
100℃~500℃未満 1試料 37,000
500℃~1000℃ 1試料 40,000
追加温度水準 1水準毎 9,000 加算
容量法(10MHz~1GHz)
室温 1試料 45,000
  追加1試料 14,000
-30℃~80℃ 1試料 68,000
追加温度水準 1水準毎 12,000 加算
SPDR法(約2.45GHz)
室温 1試料 40,000
  追加1試料 20,000
摂動法(約3GHz)
室温 1試料 70,000
  追加1試料 25,000
誘電体円柱共振器法(JISR1627)
室温 1試料 70,000
追加1試料 25,000
空洞共振器法(JISR1641)
室温 1試料 70,000
追加1試料 25,000
遮断円筒導波管法(JISR1660-1)
室温 1試料 70,000
追加1試料 25,000
平衡形円板共振器法(大凡10GHz~67GHz)
室温 1試料 80,000
  追加1試料 40,000
平衡形円板共振器法(大凡67GHz~110GHz)
室温 1試料 80,000
  追加1試料 40,000
液体試料(500MHz~50GHz)
室温 1試料 45,000
  追加1試料 25,000
温度特性 1試料 別途相談
種別 項目 単位 単価(円)
透磁率測定 周波数:10MHz~1GHz 室温 1試料 45,000
  追加1試料 14,000
テストピース作製 1試料 別途相談
種別 項目 単位 単価(円)
試料調整
(電極処理)
高温用 1試料 26,000
室温用 1試料 3,300
抵抗率測定 105Ω・cm~1016Ω・cm
室温 1試料 26,000
100℃~500℃ 1試料 37,000
500℃を越え1000℃ 1試料 57,000
1000℃を越え1200℃ 1試料 70,000
  温度1水準
加わる毎に
8,400 加算
表面抵抗率 1試料 別途相談
10-5Ω・cm~106Ω・cm
室温 1試料 26,000
100℃~500℃ 1試料 37,000
500℃を越え1000℃ 1試料 57,000
1000℃を越え1200℃ 1試料 70,000
  温度1水準
加わる毎に
8,400 加算
種別 項目 単位 単価(円)
交流インピーダンス法による導電率測定 導電率測定 - 別途相談
種別 項目 単位 単価(円)
SOFC単セルの発電試験評価 SOFC単セルの発電試験評価 -- 別途相談
種別 項目 単位 単価(円)
ホール係数測定 室温測定 1試料 21,000
80K~473K -- 別途相談
上記の単価には消費税を含みません
種別 項目 単位 単価(円)
電波吸収特性 自由空間法(JISR1679) 室温
5.6GHz~110.0GHz
バンドC(5.6~8.2)
   X(8.2~12.4)
   Ku(12.4~18.0)
   K(18.0~26.5)
   Ka(26.5~45.0)
   V-1(45.0~67.0)
   V-2(67.0~75.0)
   W(75.0~110.0)
1バンド
1試料
35,000
追加バンド
1試料
35,000
同一バンドの
追加1試料
20,000
角度条件等の変更 -- 別途相談
100℃~1000℃ -- 別途相談
同軸管法(0.5GHz~18GHz) 室温 1試料 35,000
追加1試料 20,000

戻る

誘電率測定方法

誘電率測定方法の表

遮断円筒導波管法

ファブリーぺロー法、装置の外観と概略図

平衡型円板共振器法

動画の引用・無断転載・無断使用を固く禁じます。

高温マイクロ波吸収率の測定

高温マイクロ波吸収率の測定原理

自由空間法(Sパラメータ法)

自由空間法とは?
開かれた空間で電磁波を照射し、その電磁波に対する反射特性の評価を行う方法

自由空間法、装置の外観と測定原理

抵抗率測定方法(直流3端子法、直流4端子法)

自由空間法、装置の外観と測定原理

直流3端子法 抵抗率測定装置

直流3端子法(絶縁材料)

直流4端子法 抵抗率測定装置

直流3端子法の図

直流3端子法、直流4端子法による抵抗率測定例

抵抗率測定装置と主な仕様

試験評価のお申込みはこちら

お問合せ・お申込みはこちら

アンケートへのご協力のお願い

アンケート

※試験評価に関するアンケートが、別ウインドウで開きます。

戻る