5試験評価技術 ／ 構造特性
T-32
2022
高温X線回折によるIn-situ測定・解析技術
技術のポイント
結晶相転位などの加熱による反応過程をリアルタイムで測定可能材料開発や高温下での安定性評価に有用な情報を提供
保有技術
仕様
Ｘ線出力 ：45 kV 40 mA
制御温度 ：R.T～1200 ℃
試料加熱 ：間接加熱方式
ヒーター ：W（タングステン）
温度測定 ：Pt 10 %RhPt熱電対
最大圧力 ：大気圧+1 bar
試料皿 ：Al2O3（標準）
試料台 ：Al2O3
試料サイズ ：粉末（バルク試料の場合、最大φ16×2 mm程度）
試料雰囲気 ：真空（10-4 mbar）、大気、不活性ガス（N2、Ar）
活用／成果例
LaAlO3粉末の高温X線回折試験結果
θ-2θ：20-100° 試料雰囲気：Air、大気圧昇温温度：5 ℃/min キープ時間：30 min
高温への昇温過程で起こるLaAlO3の三方晶から立方晶への相転位を確認
適用分野
・高温環境下における結晶構造安定性評価
・セラミックス、金属等無機材料全般の結晶構造評価
・各種構造および分離膜、電池等機能性材料の開発