6微構造解析
T-37
2023
EBSD-EDS同時検出による結晶方位および相分離解析技術
技術のポイント
従来のEBSD法では結晶相分離が困難な材料系に対して、EDS元素分析と組み合わせることで相分離解析が可能
保有装置
・電界放出型走査電子顕微鏡 JSM-7800F Prime(日本電子製)
・結晶方位解析装置 Digiview V EBSD System(TSLソリューションズ製)
・エネルギー分散型X線分光装置 JED-2300(日本電子製)
・結晶方位解析装置 Digiview V EBSD System(TSLソリューションズ製)
・エネルギー分散型X線分光装置 JED-2300(日本電子製)
活用/成果例
(Y,Gd)Ba2Cu3Oy層で接合したGdBa2Cu3Oy超電導接合線材のEDS元素マッピングおよび結晶相分離、結晶方位解析
1. EBSDのみでの解析結果
GdBa2Cu3Oyおよび(Y,Gd)Ba2Cu3Oyは結晶構造(orthorhombic)が同一であり、格子定数も非常に近いためEBSDパターンのみでは区別が困難
EBSD解析では同一の結晶構造を有する組織の相分離は困難
2. EBSD-EDS同時検出による複合解析結果
EBSD-EDS複合解析を行うことで同一結晶構造組織の相分離に成功
謝 辞:超電導接合線材は土井俊哉教授(京都大学)、大木康太郎博士(住友電気工業(株))から提供いただいた。本研究は、JST未来社会創造事業(JPMJMI17A2)による支援のもとで実施されたものである。
適用分野
結晶化合物全般を対象に
・微小領域での結晶系解析
・結晶相分布解析
・結晶方位分布解析
・結晶粒径分布解析
・結晶歪分布解析