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T-35 2018 |
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FIBを用いて、機能性デバイスへの電圧印加を可能にする特殊な TEM試料を作製。TEM内で動作させながらオペランド計測が可能 |
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Anada et al., J. Appl. Phys., 122 (2017) 225702. |
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全固体Liイオン電池を充放電させ、EELSでLi分布を、ホログラフィーで電位分布をオペランド計測 |
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・半導体デバイス(Si、SiC、GaAs、GaN等)の研究開発、不良解析 ・全固体電池やマルチフェロイック材料等の研究開発に適用可能 |
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