 |
 |
 |
 |
|
 |
|
| R-16 | 円環・円孔電極を用いたSEM用収差補正装置の開発 |
 |
|
| R-17 | ２種類の細孔構造（階層構造）を有する高透過性ゼオライト分離膜 |
|
|
| R-18 | EBSD法を用いた高温超電導層の結晶方位解析 |
|
|
 |
|
 |
|
 |
 |
|
| T-1 | ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用 |
| 長年培ってきた高精度な試験評価技術及び高性能な各種研究設備をご利用頂くことが出来ます | |
|
|
 |
|
| T-2 | 加工技術の紹介 |
| 研究および材料評価に適した加工を行なうための切断、研削、研磨の高精度加工技術を保有 | |
|
|
 |
|
| T-3 | 新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術 |
| 特色ある装置群を活用した高度な原料調整・成形・焼結等のプロセス技術により、材料開発・実用化を強力に支援 | |
|
|
| T-4 | 焼結シミュレーションソフトSinterPro - 焼結現象が「見える」、「わかる」- |
| JFCC開発の焼結シミュレーションソフトSinterProは、様々な焼結材料の開発支援や問題解決に活用可能 | |
|
|
| T-5 | 電子ビームPVDによるコーティング技術 |
| 電子ビームPVD（国内唯一の大型装置）により、様々な基材に高速でセラミックスコーティングが可能 | |
|
|
| T-6 | 高温過熱水蒸気処理技術 |
| 高温過熱水蒸気を用いた各種セラミックス成形体の高速脱脂やCFRPからの繊維回収（樹脂除去）が可能 | |
|
|
| T-7 | 噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術 |
| ・粒子径が揃った微粒子が合成可能 ・２相以上からなる複合微粒子を単一プロセスで合成可能 |
|
|
|
| T-8 | 各種屈折率のエアロゲル合成 |
| 微構造を制御した各種屈折率を有するシリカエアロゲルの合成・頒布 | |
|
|
 |
|
| T-9 | 材料の機械特性評価技術 〜材料強度、力学的特性、長期信頼性評価〜 |
| 様々な使用環境における、各種材料の機械特性に関する基礎物性および信頼性評価技術の紹介 | |
|
|
| T-10 | 厚膜コーティングの耐剥離性評価 |
| 厚膜セラミックスコーティングのせん断負荷条件下における耐剥離性評価技術 | |
|
|
| T-11 | 炭素およびセラミックス繊維の引張り特性評価技術 |
| CFRP等繊維強化複合材料に用いられる無機繊維（直径数ミクロン）の単繊維引張強さ等を実測 | |
|
|
| T-12 | 炭素繊維等の樹脂との密着性評価 |
| 炭素繊維強化複合材料(CFRP)に用いられる繊維の樹脂との密着性(界面せん断強度）を実測 | |
|
|
| T-13 | 多様な規格に対応した表面形状の評価技術 |
| 最新の3次元表面粗さ解析ソフト導入により多様な規格に対応 また、凹凸部の自動体積計算など迅速に3次元解析が可能 |
|
|
|
 |
|
| T-14 | 多孔質材料の熱伝導率評価 |
| 多孔質材料の熱伝導率を、フラッシュ法、示差走査熱量法、保護熱板法などにより評価・解析 | |
|
|
| T-15 | フラッシュ法による遮熱コーティング膜の熱伝導率評価 |
| フラッシュ法の多層解析により、基材およびボンドコート上に成膜された遮熱コーティング膜の熱伝導率評価が可能 | |
|
|
| T-16 | 薄板試料の熱伝導率評価技術 |
| 厚さ1mm以下の薄板試料でも、厚さ方向・面内方向の熱伝導率（熱拡散率）が評価可能 | |
|
|
| T-17 | 固体材料の比熱容量測定 |
| フラッシュ法、入力補償型DSC法、熱流束型DSC法による室温から高温までの比熱容量測定が可能 | |
|
|
| T-18 | 積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定 |
| FTIRに積分球を取り付けることで拡散成分を含めた分光反射率の測定が可能 | |
|
|
 |
|
| T-19 | 粉体特性の評価技術 |
| 粉体粒子や多孔質体の物性を様々な手法で測定 | |
|
|
| T-20 | 多孔質材料のガス透過率評価技術 |
| 多孔質材のガス透過率を非破壊で簡便に精度よく評価可能 | |
|
|
| T-21 | サブナノ〜ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価 |
| 液体、気体透過に関わる貫通孔の機能性を特徴づけるネック部の細孔径分布を評価 | |
|
|
| T-22 | 非破壊による材料評価技術 |
| X線を用いた差分画像処理法およびX線CTを用いて材料内部の欠陥や三次元構造等を非破壊で観察・解析 | |
|
|
| T-23 | 高温X線回折によるin-situ測定・解析技術 |
| 高温環境下でX線回折測定を実施することにより、常温測定では得られない結晶相変態等の影響をリアルタイムで測定可能 | |
|
|
 |
|
| T-24 | 機能性材料の構造･化学結合の分析評価技術 |
| 化学結合状態・構造・光学的特性の多面的評価を通じて新規材料の開発に貢献 | |
|
|
| T-25 | 液体材料における誘電率の温度特性評価 |
| 同軸プローブ法を用いることで、液状や半固体（ゲル状）材料の温度特性および周波数特性を評価可能 | |
|
|
| T-26 | 誘電材料のミリ波帯評価技術 |
| 車載用衝突防止レーダー等のミリ波電子デバイスにおける安全性・快適性・省エネルギー性能の向上に寄与 | |
|
|
| T-27 | 誘電材料の温度特性評価技術 |
| 誘電材料の温度特性を把握することで、電子デバイスの安全性・快適性・省エネルギー性能の向上に寄与 | |
|
|
| T-28 | 電気抵抗評価技術 |
| ・被測定物の抵抗値により測定方法を2種類から選択 ・高温（〜1200℃）及び各種雰囲気での測定が可能 |
|
|
|
| T-29 | 燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術 |
| 固体酸化物形燃料電池（SOFC）の単セルの評価技術と電解質のイオン導電性評価技術 | |
|
|
 |
|
| T-30 | エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術 |
| エッチピット法により、SiCウエハ欠陥を簡便かつ安価で多面的に評価・解析 | |
|
|
| T-31 | 超高分解能走査型電子顕微鏡(SEM)を用いた低加速観察・分析技術 |
| 低加速電圧＆無蒸着にて、観察や元素分析を行うことで高加速電圧では得られなかった情報の取得が可能 | |
|
|
| T-32 | 積層構造体の断面SEM観察用試料調製技術 |
| 積層構造体の断面SEM観察を行う際、観察目的や分析内容によって最適な試料調製法および条件を選択 | |
|
|
| T-33 | EBSD法を用いた応用解析技術 |
| EBSD （後方散乱電子回折）法により、それぞれの結晶粒の方位やずれ角の解析、結晶相分布解析、歪分布解析が可能 | |
|
|
| T-34 | デュアルビームFIB-SEM装置を用いた三次元解析技術 |
| FIBによるスライス加工とSEMによる断面観察を連続的に行い取得した多数のSEM像をコンピュータで三次元再構成 | |
|
|
| T-35 | 透過型電子顕微鏡を用いた機能性デバイスのオペランド計測技術 |
| 透過型電子顕微鏡内で、機能性デバイス（半導体，電池）を動作させながら、その場観察（オペランド計測）する特殊な技術 | |
|
|
| T-36 | 触媒反応のその場観察技術 |
| ガス環境下でのその場観察により、実材料の使用環境を模擬したナノスケール解析が可能 | |
|
|
| T-37 | X線回折による様々な測定・解析技術 |
| X線を使用し、様々な光学系を組み合わせることで目的とする情報を取得することが可能 | |
|
|
| T-38 | 収差補正電子顕微鏡によるソフトマテリアル観察 |
| 対物レンズの球面収差および焦点外し量を最適化することによりソフトマテリアル中の軽元素を可視化 | |
|
|
