試験評価

Testing & Evaluation Services

2.非破壊試験

　材料や製品を非破壊的に欠陥検査及び評価することにより、その信頼性向上や製造技術の開発への貢献を目的として試験を行います。最適な試験方法の選択と最新の試験方法での対応を心がけています。主な試験項目はマイクロフォーカスＸ線透過、３次元Ｘ線CT、蛍光浸透探傷です。

種別	項目	単位	単価（円）
マイクロフォーカスＸ線透過試験（カメラ透視）	試料調製	1試料	別途相談
	基本料＋第１視野	1透視	65,000
	追加視野透視	1透視	6,500
	解析及び補足データが必要なとき	--	別途相談

種別	項目	単位	単価（円）
３次元Ｘ線CT試験	試料調製	--	別途相談
３次元Ｘ線CT試験	測定（撮影被写体の形状、材質、検出レベル等事前打合を行います）	1領域	70,000

上記の単価には消費税を含みません
種別	項目	単位	単価（円）
蛍光浸透探傷試験	基本料＋第１測定	1試料	15,000
蛍光浸透探傷試験	追加測定	1試料	7,000

詳細料金表　1-1 | 1-2 | 1-3 | 1-4 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9～10

Ｘ線透過試験の一例

マイクロフォーカス型X線による撮影

拡大撮影してもボケの少ないX線発生器を使用しているので、微細な欠陥を拡大撮影することで観察しやすい方法です

Ｘ線透過試験の一例　マイクロフォーカス型X線による撮影

差分画像処理法（JFCCオリジナル）の説明

検出器固有のノイズや輝度ムラを少なくできるので、従来ではノイズに埋もれていた微小な欠陥像を明瞭に観察できます

Ｘ線透過試験の一例　差分画像処理法（JFCCオリジナル）の解説図

差分画像処理法を用いた撮影例

Ｘ線透過試験の一例　差分画像処理法を用いた撮影例の解説図

Ｘ線CT試験の一例

X線CTによる内部欠陥解析

X線で横断画像を撮影し積層構築することで、対象部を破壊することなく3次元的に内部状態を観察する方法です

Ｘ線CT試験の一例　X線CTによる内部欠陥解析

斜め照射型X線CTによるはんだ接合部の観察

基板に実装された素子等のはんだ接合部やスルーホール等の断線等を基板を切断することなく観察することができます

Ｘ線CT試験の一例　斜め照射型X線CTによるはんだ接合部の観察

詳細料金表　1-1 | 1-2 | 1-3 | 1-4 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9～10

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