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2012-1 | ![]() |
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・手法:透過電子顕微鏡(薄片試料作製;イオン研磨法) ・評価:結晶配向、空隙形成 |
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図1. SDA-free 条件で合成された高Al/Si比MFI型ゼオライトの結晶形状 |
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図2. ゼオライト膜中に形成されたの空隙の解析 |
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