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研究開発

研究開発

研究成果（2024）
- 研究成果 1 ／脱炭素
- R-1Agナノ粒子プラズモンによる赤外光物性制御
- R-2光学特性を考慮した遮熱システムの伝熱計算と遮熱性能実証
- R-3ナノ構造分析／計算を組合わせた多元素酸化物の結晶構造解析
- R-4アルミナ膜中の粒界を介した物質移動に及ぼす水蒸気の効果
- R-5圧痕導入によるGaNウエハ変質層厚の非破壊検査法開発
- R-6酸化ガリウム半導体中に形成される転位のTEMによる精密構造解析
- 研究成果 2 ／次世代電池
- R-7オペランド透過電子顕微鏡による全固体電池のLi伝導の可視化
- R-8MoS₂へのLi挿入反応のその場STEM観察
- R-9ハイスループット第一原理計算による新規プロトン伝導体の探索
- R-10BaZrO₃中のプロトン伝導と局所格子歪み
- R-11Ca添加YPO₄におけるプロトン伝導機構の第一原理計算
- 研究成果 3 ／環境材料
- R-12天然ガス田におけるヘリウムの膜分離回収シミュレーション
- R-13ガラス精密研磨用セリア系砥粒スラリーの劣化挙動
- R-14数十nm均一孔を有する高気孔率アルミナ多孔体の合成
- R-15棘状表面を有するセグメント構造TiON膜の創成とその抗菌性
- 研究成果 4 ／誘電体材料設計
- R-16MIと非平衡プロセスによる巨大誘電率材料探索
- R-17ペロブスカイト構造酸化物のフォノンインフォマティクス
- R-18ReO₃型酸フッ化物NbO₂Fの誘電特性発現機構
- R-19強誘電性半導体LaWN₃の相安定性および電気的特性
- 研究成果 5 ／プロセスインフォマティクス
- R-20セラミックスの製造プロセスインフォマティクス
- R-21積層部材の微構造／変形シミュレーション
- 研究成果 6 ／先進微構造解析
- R-22共焦点蛍光顕微鏡によるスラリー内部の粒子挙動その場観察
- R-23プラズマFIBを用いた大領域3次元構築
- R-24低ドーズ電子線ホログラフィーによる有機EL素子内部の電位計測
- R-25走査透過電子顕微鏡法を用いたPt表面の精密原子間距離計測
- R-26金ナノ粒子の表面拡散のHRTEMその場観察
- R-27STEM-EDS法によるゼオライト前駆体ゲルの組成分布解析
- 試験評価技術
- T-0ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
- 試験評価技術 1 ／加工・プロセス
- T-1セラミックスの加工技術
- T-2新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
- T-3焼結シミュレーションSinterPro MC版 -焼結時の組織設計支援-
- T-4焼結シミュレーションSinterPro FEM版 -焼結時の変形課題の対策に-
- T-5高温過熱水蒸気処理技術
- T-6噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術
- T-7電子ビームPVDによる先進汎用コーティング技術
- T-8低密度・低熱伝導率特性を有する各種屈折率のシリカエアロゲル
- 試験評価技術 2 ／機械的特性
- T-9機械的特性に関する評価技術
- T-10圧子圧入（IF）法による窒化ケイ素材の破壊靭性評価
- T-11強化繊維の引張特性評価技術
- T-12炭素繊維等の樹脂との密着性評価
- 試験評価技術 3 ／熱的特性
- T-13薄膜試料から断熱材までの熱伝導率評価技術
- T-14フラッシュ法による遮熱コーティング膜の熱伝導率評価
- T-15各手法による固体の比熱容量測定～低温から高温まで～
- T-16積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
- T-17高温X線回折を用いた粉末試料の熱膨張率評価技術
- 試験評価技術 4 ／電気的特性
- T-18セラミックス材料の電気抵抗評価技術
- T-19雰囲気制御下における界面由来抵抗評価技術
- T-20燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
- T-21自動運転車向けミリ波帯の電波特性評価
- T-22ミリ波帯での高精度評価技術～５G通信、自動運転への貢献～
- T-23誘電材料の温度特性評価技術
- T-24液体材料における誘電率の温度特性評価
- 試験評価技術 5 ／構造・機能評価
- T-25粉体および多孔質体の特性評価技術
- T-26サブナノ～ミクロンオーダーの細孔径分布測定と機能性評価
- T-27多孔質材料のガス透過率評価技術
- T-28エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
- T-29機能性材料の構造･化学結合の分析評価技術
- T-30X線CTによる材料評価技術
- T-31X線回折による様々な測定・解析技術
- T-32高温X線回折によるIn-situ測定・解析技術
- T-33高温環境下における残留応力評価技術
- 試験評価技術 6 ／電子顕微鏡
- T-34超高分解能走査電子顕微鏡（SEM）を用いた低加速観察・分析技術
- T-35積層構造体の断面SEM観察用試料調製技術
- T-36EBSD法を用いた微細領域高精度歪み解析技術
- T-37EBSD-EDS同時検出による結晶方位および相分離解析技術
- T-38Ga-FIB-SEMを用いた3次元構築
- T-39大気圧走査電子顕微鏡による電気化学反応その場観察
- T-40先進分析TEM JEM-F200
- T-41ナノシールドによるNaイオンの移動抑制技術
研究成果（2023）
- 研究成果 1 ／脱炭素
- R-1カーボンナノチューブ自立膜のガス透過特性
- R-2酸素極側界面微細構造に及ぼすLSCFへの異種元素添加の影響
- R-3エントロピー安定化による耐熱性酸化物の結晶構造制御
- R-4Ca-Mg-Fe-Al-Si-O溶融物に対する環境遮蔽膜の耐食設計
- R-5Ca-Mg-Fe-Al-Si-O溶融物による多結晶Yb₃Al₅O₁₂の微構造変化
- R-6内殻電子励起スペクトル計算を用いたナノ構造分析
- R-7アルミナの粒界移動の起源
- R-8高温水蒸気二相環境に曝された金属膜の酸化に伴う裏面からの水素放出
- R-9亜臨界／超臨界水中における光ファイバーの光透過損失のその場評価
- 研究成果 2 ／次世代電池
- R-10チタン酸リチウムランタン単結晶による高リチウムイオン伝導の実証
- R-11全固体電池用固体電解質におけるLiイオン伝導機構
- R-12Liイオン電池用酸化物固体電解質-正極膜の作製と構造解析
- R-13全固体Naイオン電池のオペランドSEM-EDS観察
- R-14燃料電池空気極材料LaCoO₃のH⁺トラッピングエネルギー解析
- R-15酸フッ化物Pb₂OF₂におけるフッ化物イオン拡散機構
- R-16フッ化物電池合材負極In/LaF₃のS/TEM解析
- R-17ランタン酸ハロゲン化物中のハロゲン化物イオン伝導機構
- 研究成果 3 ／パワーデバイス
- R-18Ｘ線の異常透過を利用したGa₂O₃結晶の欠陥イメージング技術
- R-19モデルスクラッチによるGaNウエハ加工変質層厚の非破壊検査法開発
- R-20GaN結晶の光学特性に影響を及ぼす転位の構造評価
- R-21常圧プラズマを用いたアルミニウム表面の直接窒化技術
- 研究成果 4 ／バイオ
- R-22グラフェンサンドイッチ法による電子線低耐性試料の電子顕微鏡観察
- R-23擬似体液を用いたアパタイト形成能評価に関する国際規格の改定
- 研究成果 5 ／インフォマティクス
- R-24セラミックス部材製造プロセスのミクロ／マクロシミュレーション
- R-25JFCCにおける第一原理計算を基盤とするMIからMDXへの取り組み
- 研究成果 6 ／先進微構造解析
- R-26分割型STEM検出器を用いたゼオライト原子構造直接観察
- R-27HAADF STEM像のノイズ低減：原子位置計測における有効性
- R-28SrCrO₃への電子線照射による酸素欠損の導入とその挙動の観察
- R-29STEM-EELSによるエポキシの構造解析
- 試験評価技術
- T-0ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
- 試験評価技術 1 ／加工・プロセス
- T-1セラミックスの加工技術
- T-2新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
- T-3噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術
- T-4電子ビームPVDによる先進汎用コーティング技術
- T-5高温過熱水蒸気処理技術
- T-6焼結シミュレーションSinterPro -新材料開発の支援ツール-
- T-7低密度・低熱伝導率特性を有する各種屈折率のシリカエアロゲル
- 試験評価技術 2 ／機械特性
- T-8機械特性に関する評価技術
- T-9高温雰囲気における機械特性評価
- T-10SEPB法による高靱性材料の破壊靭性評価
- T-11強化繊維の引張特性評価技術
- T-12炭素繊維等の樹脂との密着性評価
- 試験評価技術 3 ／熱特性
- T-13薄膜試料から断熱材までの熱伝導率評価技術
- T-14フラッシュ法による遮熱コーティング膜の熱伝導率評価
- T-15各手法による固体の比熱容量測定～低温から高温まで～
- T-16積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
- T-17高温X線回折を用いた粉末試料の熱膨張率評価技術
- 試験評価技術 4 ／電気特性
- T-18ミリ波帯での高精度評価技術～５G通信、自動運転への貢献～
- T-19複合構造におけるGHz帯複素誘電率の抽出評価
- T-20誘電材料の温度特性評価技術
- T-21液体材料における誘電率の温度特性評価
- T-22誘電材料のミリ波帯評価技術
- T-23雰囲気制御下における界面由来抵抗評価技術
- T-24燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
- 試験評価技術 5 ／構造特性
- T-25粉体および多孔質体の特性評価技術
- T-26サブナノ～ミクロンオーダーの細孔径分布測定と機能性評価
- T-27多孔質材料のガス透過率評価技術
- T-28X線CTによる材料評価技術
- T-29X線回折による様々な測定・解析技術
- T-30高温X線回折によるIn-situ測定・解析技術
- T-31機能性材料の構造･化学結合の分析評価技術
- T-32高温環境下における残留応力評価技術
- 試験評価技術 6 ／微構造解析
- T-33エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
- T-34超高分解能走査電子顕微鏡（SEM）を用いた低加速観察・分析技術
- T-35積層構造体の断面SEM観察用試料調製技術
- T-36EBSD法を用いた微細領域高精度歪み解析技術
- T-37EBSD-EDS同時検出による結晶方位および相分離解析技術
- T-38FIB-SEMを用いた3次元構築
- T-39先進分析TEM JEM-F200のご紹介
- T-40大気圧走査電子顕微鏡による電気化学反応その場観察
- T-41ナノシールドによるNaイオンの移動抑制技術
研究成果（2022）
- 研究成果 1 ／革新環境材料
- R-1Ca-Mg-Fe-Al-Si-O溶融物に対する環境遮蔽膜の腐食機構
- R-2環境遮蔽膜中の物質移動機構の体系的理解
- R-3エアロゾルデポジション法における噴射ノズルへの超音波印加効果
- R-4レーザー直接加熱による反応焼結SiCの開発
- R-5過熱水蒸気処理によるアルミナ前駆体の分解および相転移促進
- R-6表面プラズモンによる赤外輻射コントロール
- R-7炭化ケイ素系ガス分離膜の細孔径制御
- R-8ウイルス検出用のカルボキシ基修飾マグネタイト微粒子の合成
- 研究成果 2 ／高性能パワーデバイス
- R-9実験室系XRDによる単結晶基板結晶面湾曲の3D可視化技術
- R-10GaNウエハ上スクラッチからの転位発生とエピ膜中の転位反応
- 研究成果 3 ／先進微構造解析・処理技術
- R-11小惑星リュウグウで形成された磁性ナノ粒子のホログラフィー観察
- R-12電子直接検出器と機械学習を用いた電磁場計測の高精度化
- R-13OBF STEM法による超高感度ゼオライト原子構造直接観察
- R-14透過EBSD法を用いたGdBa₂Cu₃Oy超電導層の歪および欠陥構造解析
- R-15卓上型走査電子顕微鏡を用いた電子線誘起蒸着システムの構築
- 研究成果 4 ／次世代エネルギーデバイス
- R-16LaCoO₃系材料を用いた電極／中間層／電解質界面の微細構造制御
- R-17大気圧走査電子気顕微鏡による電気化学反応その場観察
- R-18電気化学反応のその場電子顕微鏡観察に向けたMEMSチップ開発
- R-19固体電解質CeF₃におけるフッ化物イオン伝導の第一原理計算
- R-20フッ化物イオン電池正極合金のフッ化・脱フッ化過程解析
- R-21複合アニオン化合物Ba₂H₃X中のショットキー欠陥とヒドリド伝導
- R-22中性子準弾性散乱と理論計算によるLiイオン伝導機構解析
- R-23リチウムイオン電池用正極膜内部の充放電による構造変化
- R-24逆格子一致法によるエピタキシャル薄膜の幾何学的格子整合性評価
- R-25酸素吸蔵材料YBaCo₄O_7+δの低温焼成に伴う欠陥形成
- R-26半導体結晶における点欠陥濃度の理論解析手法開発
- R-27プロトン伝導セラミック燃料電池空気極材料LaMO₃の溶解性評価
- R-28ペロブスカイト型酸化物におけるプロトン溶解エネルギー解析
- 研究成果 5 ／プロセスインフォマティクス
- R-29セラミックスの成形～焼結プロセスシミュレーション
- R-30不均質成形体焼結時の変形と内部応力の数値計算
- 試験評価技術
- T-0ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
- 試験評価技術 1 ／加工・プロセス
- T-1セラミックスの加工技術
- T-2新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
- T-3噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術
- T-4電子ビームPVDによる先進汎用コーティング技術
- T-5高温過熱水蒸気処理技術
- T-6焼結シミュレーションSinterPro -新材料開発の支援ツール-
- T-7低密度・低熱伝導率特性を有する各種屈折率のシリカエアロゲル
- 試験評価技術 2 ／機械特性
- T-8機械特性に関する評価技術
- T-9高温雰囲気における機械特性評価
- T-10強化繊維の引張特性評価技術
- T-11炭素繊維等の樹脂との密着性評価
- T-12厚膜コーティングの耐剥離性評価
- 試験評価技術 3 ／熱特性
- T-13各種測定法を用いた熱伝導率評価技術
- T-14フラッシュ法による遮熱コーティング膜の熱伝導率評価
- T-15各手法による固体の比熱容量測定～低温から高温まで～
- T-16積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
- T-17高温X線回折を用いた粉末試料の熱膨張率評価技術
- 試験評価技術 4 ／電気特性
- T-18ミリ波帯での高精度評価技術～５G通信、自動運転への貢献～
- T-19多層構造のGHz帯複素誘電率および温度依存性評価技術
- T-20誘電材料の温度特性評価技術
- T-21液体材料における誘電率の温度特性評価
- T-22誘電材料のミリ波帯評価技術
- T-23SOEC／SOFC用電極材料の試作と特性評価
- T-24雰囲気制御下における界面由来抵抗評価技術
- T-25燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
- T-26セラミックス材料の電気抵抗評価技術
- 試験評価技術 5 ／構造特性
- T-27粉体および多孔質体の特性評価技術
- T-28サブナノ～ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
- T-29多孔質材料のガス透過率評価技術
- T-30X線CTによる材料評価技術
- T-31X線回折による様々な測定・解析技術
- T-32高温X線回折によるIn-situ測定・解析技術
- T-33機能性材料の構造･化学結合の分析評価技術
- 試験評価技術 6 ／微構造解析
- T-34エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
- T-35EBICを用いたパワーデバイス欠陥解析
- T-36超高分解能走査電子顕微鏡（SEM）を用いた低加速観察・分析技術
- T-37積層構造体の断面SEM観察用試料調製技術
- T-38EBSD法を用いた微細領域高精度歪み解析技術
- T-39EBSD-EDS同時検出による結晶方位および相分離解析技術
- T-40FIB-SEMを用いた3次元構築
- T-41先進分析TEM JEM-F200のご紹介
- T-42触媒反応のその場観察技術
- T-43電子線ホログラフィーによる半導体、磁性体、電池材料の観察
研究成果（2021）
- 研究成果 1 ／革新環境材料
- R-1エネルギーマネジメントに貢献する光学薄膜
- R-2熱輻射抑制膜の開発～熱ロス低減・エネルギー効率向上へ～
- R-3光による応力・ひずみセンサの蛍光メカニズム解析
- R-4輻射熱反射用酸化物膜の微量添加元素の効果
- R-5ナノドメイン形成による耐熱性酸化物の低熱伝導化
- R-6酸化物保護膜の酸素遮蔽性に及ぼす粒界偏析元素の機能
- R-7水素分離膜の高透過率化
- R-8レーザー焼結による緻密質・多孔質アルミナの作製
- R-9レーザー昇華堆積法によるSiC成膜技術の開発
- R-10CFRP製水素タンクからの過熱水蒸気を利用した炭素繊維回収
- R-11高感度なウイルス検出を目指した超常磁性微粒子の開発
- 研究成果 2 ／高性能パワーデバイス
- R-12パワー半導体材料のX線トポグラフィーオペランド観察法開発
- R-13GaNウエハ転位の非破壊高速検出
- R-14ワイドバンドギャップ半導体結晶の加工変質層厚推定方法の開発
- R-15電子線回折情報を用いたパワー半導体の高度欠陥構造解析
- 研究成果 3 ／次世代エネルギーデバイス
- R-16SOEC・SOFCの酸素極界面構造に及ぼすTiO₂添加の効果
- R-17層状ペロブスカイトBa₂ScHO₃の欠陥構造とヒドリド伝導性
- R-18逆ペロブスカイト型複合アニオン化合物におけるイオン伝導
- R-19Li過剰系正極材料におけるLi脱離界面の原子構造解析
- R-20電気化学測定に連動した亜鉛電極表面反応のその場観察
- R-21電子線ホログラフィーによる太陽電池の光起電力効果の直接観察
- R-22MoS₂へのLiインターカレーションその場TEM観察
- R-23Ca、Zn添加β-Ga₂O₃における光触媒活性に及ぼす欠陥状態の解析
- 研究成果 4 ／画期的微構造解析・処理技術
- R-24分子スケール直接観察による有機配向膜の構造解析
- R-25酸化物高温超電導接合線材REBa₂Cu₃O_yの接合組織
- R-26X線回折と理論計算を用いた添加元素近傍結晶構造の精密解析
- R-27触媒Pt粒子表面の原子間距離計測
- 研究成果 5 ／高精度性能予測計算科学
- R-28セラミックスの粉末成形・焼結プロセスシミュレーション
- R-29表面拡散を考慮した焼結初期過程のモデリング
- R-30MAS-NMRと第一原理計算の併用による結晶内微量元素の局所構造解析
- R-31ペロブスカイト型LaLuO₃系機能性材料の理論計算
- R-32ウルツ鉱型強誘電体のマテリアルズインフォマティクス
- 試験評価技術
- T-0ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
- 試験評価技術 1 ／加工・プロセス
- T-1セラミックスの加工技術
- T-2新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
- T-3噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術
- T-4電子ビームPVDによる実用先進コーティング技術
- T-5エアロゾルデポジション法によるセラミックス膜の形成
- T-6高温過熱水蒸気処理技術
- T-7革新材料開発を支援する焼結シミュレーションSinterPro
- T-8低密度・低熱伝導率特性を有する各種屈折率のシリカエアロゲル
- 試験評価技術 2 ／機械特性
- T-9機械特性に関する評価技術
- T-10厚膜コーティングの耐剥離性評価
- T-11強化繊維の引張特性評価技術
- T-12炭素繊維等の樹脂との密着性評価
- 試験評価技術 3 ／熱特性
- T-13各種測定法を用いた熱伝導率評価技術
- T-14フラッシュ法による遮熱コーティング膜の熱伝導率評価
- T-15各手法による固体の比熱容量測定～低温から高温まで～
- T-16積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
- T-17高温X線回折を用いた粉末試料の熱膨張率評価技術
- 試験評価技術 4 ／電気特性
- T-18ミリ波帯での高精度評価技術～５G通信、自動運転への貢献～
- T-19誘電材料の温度特性評価技術
- T-20液体材料における誘電率の温度特性評価
- T-21誘電材料のミリ波帯評価技術
- T-22多層構造のGHz帯複素誘電率および温度依存性評価技術
- T-23雰囲気制御下における界面由来抵抗評価技術
- T-24燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
- T-25セラミックス材料の電気抵抗評価技術
- 試験評価技術 5 ／組成分析
- T-26機能性材料の構造･化学結合の分析評価技術
- 試験評価技術 6 ／構造特性
- T-27粉体および多孔質体の特性評価技術
- T-28サブナノ～ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
- T-29多孔質材料のガス透過率評価技術
- T-30多様な規格に対応した表面形状の評価技術
- T-31X線CTによる材料評価技術
- T-32X線回折による様々な測定・解析技術
- T-33高温X線回折によるIn-situ測定・解析技術
- 試験評価技術 7 ／微構造
- T-34エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
- T-35EBICを用いたパワーデバイス欠陥解析
- T-36超高分解能走査電子顕微鏡（SEM）を用いた低加速観察・分析技術
- T-37積層構造体の断面SEM観察用試料調製技術
- T-38EBSD法を用いた微細領域高精度歪み解析技術
- T-39EBSD-EDS同時検出による結晶方位および相分離解析技術
- T-40FIB-SEMを用いた3次元構築
- T-41先進分析TEM JEM-F200のご紹介
- T-42触媒反応のその場観察技術
- T-43電子線ホログラフィーによる半導体、磁性体、電池材料の観察
研究成果（2020）
- 研究成果 1 ／革新複合材料・機能材料
- R-1耐熱性酸化物保護膜中の物質移動機構解析
- R-2輻射熱反射用酸化物膜中の構造安定性に及ぼす化学組成の影響
- R-3先進遮熱コーティング用酸化物の結晶構造と熱伝導性の関係
- R-4熱輻射抑制膜の開発～熱ロス低減・エネルギー効率向上へ～
- R-5光による応力・ひずみセンサの蛍光メカニズム解析
- R-6結晶粒界構造に基づく熱伝導度の直接予測
- R-7過熱水蒸気によるCFRPからの高効率炭素繊維回収技術
- R-8窒化アルミニウムのレーザー焼結
- R-9レーザー直接加熱によるSiC系共晶材料の作製
- R-10ベータ型ゼオライト結晶粒子の自己相似構造発現の由来解明
- R-11環境に配慮した高機能難燃剤の構造解析
- R-12酸素吸蔵材料YBaCo₄O_7+δの原子構造解析
- R-13対向拡散CVD法による分離膜特性および生産性の向上
- 研究成果 2 ／先進健康・医療材料
- R-14Bi系超電導接合領域の微細構造解析～次世代NMRマグネット開発～
- 研究成果 3 ／次世代エネルギーデバイス
- R-15次世代蓄電池固体電解質LaF₃のイオン伝導第一原理計算
- R-16次世代蓄電池負極MgF₂のSTEM EELSを用いた電極反応解析
- R-17全固体酸化物電池用原料粉末の高次構造化
- R-18GDC/YSZ界面での相互拡散が及ぼす単セル抵抗成分への影響
- 研究成果 4 ／高性能パワーデバイス
- R-19GaN/Siパワー半導体に形成される結晶欠陥のTEMによる構造解析
- R-20次世代パワー半導体酸化ガリウムの結晶欠陥分類法開発
- R-21GaN結晶加工時の模擬導入欠陥3次元構造と荷重の相関
- 研究成果 5 ／革新将来機能材料
- R-22SinterProを用いたプロセスシミュレーション技術の開発
- R-23初期焼結のモデリングと応力解析
- R-24JFCCにおけるマテリアルズインフォマティクス研究
- R-25酸素吸蔵材料Ca₂AlMnO_5+δにおける酸化物イオン拡散機構の研究
- R-26プロトン伝導体LaScO₃の第一原理計算による相安定性
- R-27Bi系複合アニオン光触媒における高活性メカニズム
- 研究成果 6 ／画期的微構造解析・処理技術
- R-28AI画像処理による電子線ホログラフィー電位計測
- R-29走査電子顕微鏡用簡易型収差補正器の開発
- 試験評価技術 1 ／最先端試験評価技術
- T-0ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
- 試験評価技術 2 ／プロセス・加工
- T-1セラミックスの各種焼結技術
- T-2セラミックスの加工技術
- T-3噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術
- T-4電子ビームPVDによる先進コーティング技術
- T-5エアロゾルデポジション法によるセラミックス膜の形成
- T-6高温過熱水蒸気処理技術
- T-7焼結時の課題を解決！シミュレーションソフトSinterPro
- T-8低密度･低熱伝導率特性を有する各種屈折率のシリカエアロゲル
- 試験評価技術 3 ／機械特性
- T-9機械特性に関する評価技術
- T-10厚膜コーティングの耐剥離性評価
- T-11炭素およびセラミックス繊維の引張り特性評価技術
- T-12炭素繊維等の樹脂との密着性評価
- 試験評価技術 4 ／熱特性
- T-13各種測定法を用いた熱伝導率評価技術
- T-14フラッシュ法による熱拡散率・熱伝導率評価技術
- T-15フラッシュ法による遮熱コーティング膜の熱伝導率評価
- T-16各手法による固体の比熱容量測定～低温から高温まで～
- T-17積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
- 試験評価技術 5 ／電気特性
- T-18５Gやミリ波帯での高精度な誘電特性評価技術
- T-19液体材料における誘電率の温度特性評価
- T-20誘電材料の温度特性評価技術
- T-21電気抵抗評価技術
- T-22燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
- 試験評価技術 6 ／組成分析
- T-23機能性材料の構造･化学結合の分析評価技術
- 試験評価技術 7 ／構造特性
- T-24粉体および多孔質体の特性評価技術
- T-25サブナノ～ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
- T-26多孔質材料のガス透過率評価技術
- T-27多様な規格に対応した表面形状の評価技術
- T-28X線CTによる非破壊材料評価技術
- T-29X線回折による様々な測定・解析技術
- T-30高温X線回折によるIn-situ測定・解析技術
- 試験評価技術 8 ／微構造解析
- T-31エッチピット法によるSiC単結晶の欠陥解析評価技術
- T-32EBICを用いたパワーデバイス欠陥解析
- T-33先進分析TEM JEM-F200のご紹介
- T-34FIB-SEMを用いた3次元構築
- T-35複合材料の断面SEM観察用試料調製技術
- T-36超高分解能走査電子顕微鏡(SEM)を用いた低加速観察・分析技術
- T-37EBSD法を用いた微細領域高精度歪み解析技術
- T-38EBSD-EDS同時取得による結晶方位、相・多形分離解析技術
- T-39触媒反応のその場観察技術
- T-40電子線ホログラフィーによる半導体、磁性体、電池材料の観察
研究成果（2019）
- 研究成果 1 ／エネルギー変換デバイス
- R-1酸水素化物Ba₂ScHO₃における安定構造とイオン伝導機構
- R-2プロトン伝導体LaScO₃の伝導キャリア濃度の理論計算
- R-3熱輻射抑制膜の開発　～熱ロス低減・エネルギー効率向上へ～
- R-4LSCF/YSZ界面に形成される反応形成相由来の抵抗評価
- 研究成果 2 ／次世代電池
- R-5Liイオン二次電池正極のLiイオン分布観察
- R-6亜鉛空気電池ハーフセルの負極反応TEM観察
- R-7金属電極／固体電解質界面におけるLiイオン空間電荷層の直接観察
- R-8Liイオン電池用正極膜の充放電による表面構造変化
- R-9サファイア基板上に形成したLi過剰系正極薄膜の界面構造解析
- R-10Li₂MnO₃正極材料の微粒子中ドメイン境界構造解析
- R-11グラファイト中フッ素イオンの伝導挙動の第一原理計算
- R-12NASICON型Na₃V₂(PO₄)₃におけるNaイオン伝導機構の解明
- R-13全固体電池用原料粉末プロセスの高度化
- 研究成果 3 ／先進複合・軽量化材料
- R-14ナノドメイン構造を利用した遮熱コーティング材料の低熱伝導化
- R-15YbTa₃O₉ナノドメイン構造の直接観察
- R-16膜構成元素の化学ポテンシャル変化を利用した新たな保護膜設計
- R-17輻射熱反射用酸化物膜の酸素遮蔽性と膜中の物質移動
- R-18電子ビームPVD法による保護膜の組織形成に及ぼす基板表面粗さの影響
- R-19電子ビームPVD法による遮熱／環境遮蔽保護膜の高次構造制御
- R-20レーザー加熱によるSiCコーティング技術の開発
- R-21高硬度Ti-B-C複合粉末の合成と焼結
- 研究成果 4 ／次世代パワーデバイス解析
- R-22究極のパワー素子を目指した窒化アルミニウム単結晶の転位評価
- R-23次世代パワー半導体材料酸化ガリウム単結晶の転位評価
- R-24ワイドバンドギャップ半導体中転位の電子線励起下における挙動
- R-25超高圧電子線ホログラフィーによるGaN中のドーパント分布観察
- R-26位相シフト電子線ホログラフィーによるGaAs半導体の高確度電位計測
- 研究成果 5 ／革新将来機能材料
- R-27アルミナのレーザー焼結技術
- R-28多孔質球状粒子を用いたアルミナ多孔体の特性
- R-29炭化ケイ素系水素分離膜の開発
- R-30高速原子間力顕微鏡による生体分子の初期吸着挙動解析
- R-31層状リン酸カルシウムのインターカレーションによるキラル分子認識
- R-32光による応力・ひずみセンサの蛍光メカニズム解析
- 研究成果 6 ／ AIを活用した微構造解析と計算科学
- R-33走査電子顕微鏡用コンパクト収差補正器の開発
- R-34酸素吸蔵材料における平衡酸素分圧の理論計算
- R-35光触媒材料中の電子キャリアトラップの理論計算
- 試験評価技術 1 ／評価技術・機器利用
- T-1ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
- 試験評価技術 2 ／プロセス・加工技術
- T-2新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
- T-3噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術
- T-4エアロゾルデポジション法によるセラミックス膜の形成
- T-5低密度･低熱伝導率特性を持つ様々な屈折率のエアロゲル
- T-6焼結部材開発の短縮化に役立つシミュレーションソフトSinterPro
- T-7高温過熱水蒸気処理技術
- T-8加工技術の紹介
- 試験評価技術 3 ／機械特性
- T-8機械特性に関する評価技術
- T-10厚膜コーティングの耐剥離性評価
- T-11炭素およびセラミックス繊維の引張り特性評価技術
- T-12炭素繊維等の樹脂との密着性評価
- 試験評価技術 4 ／熱特性
- T-13各種測定法を用いた熱伝導率評価技術
- T-14フラッシュ法による遮熱コーティング膜の熱伝導率評価
- T-15各手法による固体の比熱容量測定　～低温から高温まで～
- T-16積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
- 試験評価技術 5 ／電気特性
- T-17５Ｇに対応した電波吸収体/シールド材の評価技術
- T-18液体材料における誘電率の温度特性評価
- T-19誘電材料の温度特性評価技術
- T-20電気抵抗評価技術
- T-21燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
- 試験評価技術 6 ／構造特性
- T-22粉体および多孔質体の特性評価技術
- T-23多孔質材料のガス透過率評価技術
- T-24サブナノ～ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
- T-25高分解能および斜め照射型X線CTによる材料評価技術
- 試験評価技術 7 ／組成分析
- T-26X線回折による様々な測定・解析技術
- T-27高温X線回折によるin-situ測定・解析技術
- T-28機能性材料の構造･化学結合の分析評価技術
- 試験評価技術 8 ／微構造解析
- T-29エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
- T-30多様な規格に対応した表面形状の評価技術
- T-31超高分解能SEMを用いた低加速観察・分析技術
- T-32積層構造体の断面SEM観察用試料調製技術
- T-33EBSD法を用いた歪み解析技術
- T-34EBSD-EDS同時取得による結晶方位および相分離解析技術
- T-35FIB-SEMを用いた三次元構築
- T-36新規汎用TEM JEM-F200のご紹介
- T-37触媒反応のその場観察技術
研究成果（2018）
- 研究成果 1 ／計算化学と電池
- R-1LiMn₂O₄中の粒界構造と電池特性 -原子分解能構造解析と理論計算-
- R-2Liイオン伝導体LiBH4添加NaIの欠陥形成挙動の理論計算
- R-3状ペロブスカイト型固体電解質のLiイオン伝導性と構造乱れの相関
- R-4超高分解能STEM像を用いたLiイオン濃度分布解析技術の開発
- R-5Liイオン電池用固体電解質の熱処理によるナノ構造変化
- R-6環境電子顕微鏡による亜鉛の析出・溶解反応のオペランド観察
- R-7プロトン伝導性固体電解質における伝導キャリア濃度の第一原理計算
- R-8結晶中の熱平衡点欠陥濃度の第一原理計算
- 研究成果 2 ／パワーデバイス
- R-9放射光X線トポグラフィによるGaN単結晶基板貫通転位の検出と分類
- R-10次世代パワー半導体材料酸化ガリウムβ-Ga₂O₃単結晶の評価
- R-11放射光X線トポグラフィおよびエッチピット法によるAlN単結晶の評価
- R-124H-SiC(1120)エピタキシャル膜中の基底面転位の拡張挙動の観察
- R-13大角度収束電子線回折法を用いたダイヤモンドモザイク結晶の転位解析
- R-14電圧印加時GaAs p-n接合の電位・電場・電荷密度その場計測
- R-15電子線ホログラフィーによるGaNナノワイヤーのドーパント分布観察
- 研究成果 3 ／微構造解析
- R-16円環・円孔電極を用いたSEM用収差補正装置の開発
- R-17２種類の細孔構造（階層構造）を有する高透過性ゼオライト分離膜
- R-18EBSD法を用いた高温超電導層の結晶方位解析
- 研究成果 4 ／コーティング
- R-19高温熱源を創る太陽光吸収膜の高効率化
- R-20電気的特性の大きく異なる酸化物の積層化による物質移動制御
- R-21アルミナ粒界を介した物質移動に及ぼす酸素濃度勾配と加湿の影響
- R-22酸素トレーサーを用いた酸素透過法による保護膜中の物質移動機構
- R-23還元雰囲気下でのYbシリケートの相安定
- R-24耐熱サイクル性に優れる耐環境性コーティングの設計と創製
- R-25AD法におけるアルミナ膜の組織制御
- 研究成果 5 ／プロセス開発
- R-26Nd:YAGレーザーを用いたセラミックスの短時間焼結技術
- R-27多孔質球状粒子を用いたアルミナ多孔体の特性
- R-28静電噴霧を用いたナノ粒子の高密度集積化技術の開発
- R-29噴霧熱分解法を用いたジルコニア多孔質球状粒子の開発
- R-30気相合成ガス分離膜のスケールアップ
- R-31分離膜用非対称型多孔質基材の開発
- R-32SOFC空気極の低温焼成技術
- R-33表面電位制御チタン上における骨芽細胞の応答およびタンパク質の検出
- 最先端機器・技術 1 ／評価技術と機器利用
- T-1ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
- 最先端機器・技術 2 ／加工技術
- T-2加工技術の紹介
- 最先端機器・技術 3 ／プロセス技術
- T-3新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
- T-4焼結シミュレーションソフトSinterPro　- 焼結現象が「見える」、「わかる」-
- T-5電子ビームPVDによるコーティング技術
- T-6高温過熱水蒸気処理技術
- T-7噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術
- T-8各種屈折率のエアロゲル合成
- 最先端機器・技術 4 ／機械特性
- T-9材料の機械特性評価技術～材料強度、力学的特性、長期信頼性評価～
- T-10厚膜コーティングの耐剥離性評価
- T-11炭素およびセラミックス繊維の引張り特性評価技術
- T-12炭素繊維等の樹脂との密着性評価
- T-13多様な規格に対応した表面形状の評価技術
- 最先端機器・技術 5 ／熱特性
- T-14多孔質材料の熱伝導率評価
- T-15フラッシュ法による遮熱コーティング膜の熱伝導率評価
- T-16薄板試料の熱伝導率評価技術
- T-17固体材料の比熱容量測定
- T-18積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
- 最先端機器・技術 6 ／構造特性
- T-19粉体特性の評価技術
- T-20多孔質材料のガス透過率評価技術
- T-21サブナノ～ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
- T-22非破壊による材料評価技術
- T-23高温X線回折によるin-situ測定・解析技術
- 最先端機器・技術 7 ／電気化学分析技術
- T-24機能性材料の構造･化学結合の分析評価技術
- T-25液体材料における誘電率の温度特性評価
- T-26誘電材料のミリ波帯評価技術
- T-27誘電材料の温度特性評価技術
- T-28電気抵抗評価技術
- T-29燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
- 最先端機器・技術 8 ／微構造解析
- T-30エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
- T-31超高分解能走査型電子顕微鏡(SEM)を用いた低加速観察・分析技術
- T-32積層構造体の断面SEM観察用試料調製技術
- T-33EBSD法を用いた応用解析技術
- T-34デュアルビームFIB-SEM装置を用いた三次元解析技術
- T-35透過型電子顕微鏡を用いた機能性デバイスのオペランド計測技術
- T-36触媒反応のその場観察技術
- T-37X線回折による様々な測定・解析技術
- T-38収差補正電子顕微鏡によるソフトマテリアル観察
研究成果（2017）
- 研究成果 1 ／コーティング
- R-1表面電位制御による高生体活性チタンの開発
- R-2表面電位極性を利用した新たな保護膜設計の可能性
- R-3AD法によるアルミナ膜の集合組織形成
- R-4ダブル電子ビームPVD法による耐環境性保護膜（EBC）の形成
- R-5耐環境性保護膜の構造安定化に関する研究
- R-6耐環境性保護膜の物質移動に及ぼす水蒸気の影響
- R-7耐環境性保護膜における応力下ラマンスペクトルの理論計算
- 研究成果 2 ／パワーデバイス材料
- R-8電圧印加電子線ホログラフィーによるGaAs p-n接合の高感度電位計測
- R-9高感度電子線ホログラフィーによるGaN系デバイスの観察
- R-10高感度電子線ホログラフィーを用いたGaN系量子井戸発光層の電位計測
- R-11GaN単結晶基板の転位評価
- R-124H-SiC非極性面における転位の拡張挙動の観察
- R-134H-SiCにおけるらせん転位と混合転位の観察
- 研究成果 3 ／計算科学
- R-14第一原理計算による高安定性イオン伝導体の材料設計
- R-15網羅的ソフトモードフォノン探索によるHfO2薄膜の強誘電性の理論計算
- R-16分子性強誘電体TCAAの相転移挙動の理論計算
- R-17オリビン型リン酸化物の表面構造に関する理論計算
- R-18ペロブスカイト系複合アニオン化合物における欠陥構造の理論解析
- 研究成果 4 ／電池材料解析
- R-19リチウムイオン二次電池正極材料LiFePO₄の最表面構造観察
- R-20リチウムイオン二次電池材料のEELSシミュレーション
- R-21LiCoPO₄正極膜の充放電によるナノ構造変化
- R-22Li過剰Mn酸化物薄膜の充放電挙動とナノドメイン構造
- 研究成果 5 ／環境材料
- R-23超電導接合領域の微細構造解析酸化物高温超電導線材の接合
- R-24ネオジム磁石の高温磁区・磁壁構造観察
- R-25電界型コンパクト収差補正装置の開発
- R-26環境電子顕微鏡による金ナノ触媒の反応サイト可視化
- R-27酸化・還元雰囲気における貴金属触媒挙動のその場観察
- R-28人工ソーラー光源による太陽熱レシーバの効率評価
- R-29太陽光から高温熱源を創る薄膜材料の開発
- R-30光による応力・ひずみセンサの蛍光メカニズム解析
- R-31触媒担体用多孔質球状アルミナ粒子の開発
- R-32高性能電極触媒用多孔質球状粒子の開発
- R-33多孔質球状粒子を用いた気相触媒電極の開発
- R-34高品位リサイクル炭素繊維の低コスト回収技術
- R-35ガス分離膜の低欠陥合成手法
- R-36ガラス精密研磨特性に及ぼすセリア系砥粒へのLa添加の影響
- 研究成果 6 ／プロセス／材料開発
- R-37レーザーを用いた酸化物セラミックス焼結技術の開発
- R-38レーザーを用いた多結晶SiC製造プロセスの開発
- R-39レーザー加熱法による熱衝撃試験と破壊メカニズム解析
- R-40チタン炭窒化物の熱物性に及ぼす固溶性不純物の影響
- R-41不均一な密度分布をもつ成形体の焼結シミュレーション
- 最先端機器・技術 1 ／評価技術紹介
- T-1ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
- 最先端機器・技術 2 ／加工技術
- T-2最先端研究を支える加工技術の紹介
- 最先端機器・技術 3 ／プロセス技術
- T-3セラミックスの各種焼結技術
- T-4噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術
- T-5各種屈折率のエアロゲル合成
- T-6電子ビームPVD法によるコーティング技術
- 最先端機器・技術 4 ／特性評価技術
- T-7フラッシュ法による遮熱コーティング膜の熱伝導率評価
- T-8薄板試料の熱伝導率評価技術
- T-9固体材料の比熱容量測定
- T-10積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
- T-11液体材料の誘電特性評価
- T-12誘電材料のミリ波帯評価技術
- T-13誘電材料の温度特性評価技術
- T-14電気抵抗評価技術
- T-15燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
- T-164探針SPMによる局所物性評価
- T-17材料の機械特性評価技術～材料強度、力学的特性、長期信頼性評価～
- T-18炭素繊維およびセラミックス繊維の引張特性評価技術
- T-19高温高圧水環境下における水熱腐食、摩耗評価技術
- T-20多様な規格に対応した表面形状の評価技術
- T-21サブナノ～ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
- T-22粉体特性の評価技術
- T-23機能性材料の構造・化学結合の分析評価技術
- T-24SOFC用多孔質電極材料のガス透過率評価技術
- 最先端機器・技術 5 ／分析解析技術
- T-25X線回折による様々な測定・解析技術
- T-26X線CT画像データを用いた三次元解析技術
- T-27デュアルビームFIB-SEM装置を用いた三次元解析技術
- T-28積層構造体の断面SEM観察用試料調製技術
- T-29後方散乱電子回折（EBSD）法を用いた応用解析技術
- T-30超高分解能走査型電子顕微鏡（SEM）低加速電圧観察・分析技術
- T-31エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
- T-32モノクロメータ収差補正STEMによる微細構造解析・分析
- T-33収差補正電子顕微鏡によるソフトマテリアル観察
- T-34電子線ホログラフィーを用いた電子材料、磁性材料の定量観察
研究成果（2016）
- 研究成果 1 ／パワーデバイス材料
- R-1GaN/AlGaN界面における２次元電子ガス層の電位分布観察
- R-2エッチピット法によるGaN単結晶の転位検出と分類技術の開発
- R-3化学エッチングによるダイヤモンド単結晶表面の平坦化技術の開発
- R-4NaOH蒸気エッチングによるSiCウエハの混合転位検出と分類
- R-5透過電子顕微鏡を用いたGaN/Si結晶の欠陥構造評価
- 研究成果 2 ／耐環境性コーティング
- R-6エアロゾルデポジション法により形成したアルミナ膜の集合組織評価
- R-7高温におけるAl系酸化保護膜の物質移動機構
- R-8耐環境性Ybシリケート膜の物質移動機構解明
- R-9次世代航空機エンジン用耐環境性コーティングプロセスの開発
- R-10第一原理計算によるYbシリケート膜の電子特性解析
- 研究成果 3 ／第一原理計算
- R-11第一原理計算によるκ-Al₂O₃型強誘電体の分極反転経路解析
- R-12Bi-Te系熱電材料における基底状態の構造探索と電気特性
- R-13アルミネートゼオライト強誘電体の相転移機構解析
- R-14新規機能性ウェーバー石型酸化物の理論計算
- R-15第一原理計算によるTi-V系水素吸蔵合金の特性解析
- 研究成果 4 ／二次電池
- R-16Li過剰系正極活物質ドメイン境界におけるLi拡散現象の解明
- R-17化学溶液法によるLiCoPO₄正極膜の作製と微細構造解析
- 研究成果 5 ／環境
- R-18炭素繊維の強度に及ぼす過熱水蒸気処理の影響評価
- R-19光による応力・ひずみセンサの蛍光メカニズム解析
- R-20耐水蒸気性ガス分離膜用メソポーラス中間層の開発
- R-21分離膜低欠陥成膜手法の開発
- 研究成果 6 ／触媒
- R-22環境電子顕微鏡による金ナノ触媒の反応サイト可視化
- R-23酸化・還元雰囲気下における貴金属触媒挙動のその場観察
- R-24構造規定剤を使用しないで作製したベータ型ゼオライトの結晶成長
- 研究成果 7 ／プロセス開発・材料開発
- R-25酸化物セラミックスのレーザー焼結技術の開発
- R-26金属塩アルコール溶液を原料とした静電噴霧CVDプロセスの開発
- R-27粒子の充填・成形に関するシミュレーション手法の開発
- R-28骨修復用高生体活性酸化チタン粒子の開発
- 研究成果 8 ／信頼性・機能評価
- R-29BaTiO3薄膜中のナノドメイン構造観察
- R-30コロイダルシリカスラリーを用いたサファイア基板の精密研磨評価
- R-31高温・外部磁場印加によるネオジム磁石の磁壁移動観察
- R-32局所加熱法による材料および硬質膜の熱損傷特性の評価
- R-33FIB-SEMを用いた超電導層の3次元構築
- R-34人工ソーラー光源による太陽熱レシーバの効率評価
- 最先端機器・技術 1 ／全般
- T-1ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
- 最先端機器・技術 2 ／プロセス技術
- T-2新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
- T-3高精度加工技術
- T-4電子ビームPVDによるコーティング技術
- T-5様々な焼結現象を模擬できる焼結シミュレーションソフトウェア
- 最先端機器・技術 3 ／合成技術
- T-6噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術
- T-7液相合成によるナノ粒子合成技術
- T-8各種屈折率のエアロゲル合成
- 最先端機器・技術 4 ／機械特性
- T-9炭素およびセラミックス繊維の引張り強さ、密着性評価技術
- T-10高温高圧水環境下における水熱腐食、摩耗評価技術
- T-11多様な規格に対応した表面形状の評価技術
- T-12機械特性に関する評価技術
- 最先端機器・技術 5 ／電気特性
- T-13誘電材料のミリ波帯評価技術
- T-14誘電材料の温度特性評価技術
- T-15電気抵抗評価技術
- 最先端機器・技術 6 ／熱特性
- T-16薄板試料の熱伝導率評価技術
- 最先端機器・技術 7 ／粉体特性
- T-17粉体特性の評価技術
- 最先端機器・技術 8 ／結晶・形態解析
- T-18後方散乱電子回折法による結晶方位解析技術
- T-19X線回折による結晶相同定
- T-20機能性材料の構造・化学結合の分析評価技術
- 最先端機器・技術 9 ／非破壊試験・表面分析
- T-21造影剤を使ったX線CT撮影技術
- T-22デュアルビームFIB-SEM装置を用いた三次元解析技術
- T-23積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
- 最先端機器・技術 10 ／非破壊試験・表面分析
- T-24モノクロメータ収差補正STEMによる微細構造解析・分析
- T-25積層構造体の断面SEM観察用試料調製法検討
- T-26超高分解能走査型電子顕微鏡(SEM)
- T-27収差補正電子顕微鏡によるソフトマテリアル観察
- T-28電子線ホログラフィーを用いた電子材料、磁性材料の定量観察
- 最先端機器・技術 11 ／特殊解析
- T-29燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
- T-30超高真空中破壊試験による材料組織内在ガスの質量分析
- T-31サブナノ～ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
- T-32エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
- T-33ガラス精密研磨におけるCMP用スラリー寿命評価技術
- T-34SOFC用多孔質電極材料のガス透過率評価技術
研究成果（2015）
研究成果（2014）
研究成果（2013）
研究成果（2012）
研究成果（2011）
1. 微構造解析・計算材料設計
- 2015年度研究成果
- 高感度電子線ホログラフィーによる薄膜太陽電池内部の電位観察
- In situ 位置分解EELSによる全固体Liイオン電池の充放電中のLi濃度観察
- Liイオン電池用固体電解質LLNｂOの微細構造解析
- スピネル系正極活物質における固溶状態と電極反応機構の解析
- 第一原理計算によるLiCoO₂多形体の構造と特性
- 理論計算によるNaイオン電池用活物質Na_xV₂(PO₄)₃の伝導特性
- 一定電束密度下の第一原理計算によるZnOの強誘電性解析
- AgNbO₃の電場誘起強誘電相転移に関する第一原理計算
- 強誘電体における構造相転移の第一原理計算
- 第一原理計算によるY₂Ti₂O₇結晶における点欠陥安定性の評価
- 第一原理計算による水素吸蔵合金の特性解析
- アルミナ中の粒界拡散に関する理論解析
- 欠陥構造による歪み場を利用した高電子移動度SrTiO₃薄膜の開発
- ゼオライトにおける吸着カチオンの直接観察手法確立
- ゼオライト膜の粒界における細孔チャンネル連続性の解析
- 電子顕微鏡を用いた半導体材料の欠陥構造解析技術
- 高経年太陽光セルの微細構造解析
- 微結晶ネオジム磁石の高温における磁区・磁壁構造観察
- 2014年度研究成果
- 位置分解EELSによるその場形成負極活物質の電子状態計測
- 位置分解EELSによる全固体Liイオン電池のLiCoO₂正極の反応解析
- リチウムイオン伝導体の低温短時間合成
- リチウムイオン二次電池用正極膜のナノ構造解析
- 固体電解質LLTO中90°ドメインのLi伝導への影響
- 第一原理計算によるウルツァイト型結晶構造の強誘電性解析
- アルミナ中の粒界拡散に関する理論解析
- 第一原理計算による単鎖イノケイ酸塩Bi₂SiO₅の強誘電性の解析
- 第一原理計算によるLiCoO₂ポリタイプの構造と特性
- 第一原理計算による水素吸蔵Ti-V合金の固溶状態解析
- 貴金属ナノ触媒による炭素材料酸化過程のその場観察
- 収差補正モノクロメータSTEMによる高エネルギー分解能EELS測定
- 電子顕微鏡を用いたイットリウム系長尺超電導線材の微細構造解析
- ゼオライト水分離膜の構造解析
- ゼオライト内吸着カチオンの精密構造解析
- 透過電子顕微鏡を用いた複合評価によるSiC結晶欠陥の定量解析
- ネオジム磁石の高温における磁区・磁壁構造観察
- 焼結シミュレーションソフトウェアSinterPro改良版の開発
- 2013年度研究成果
- 位置分解EELSによる次世代全固体電池内部のLi分布直接観察
- 第一原理計算と機械学習に基づいたリチウム固体電解質の探索
- リチウム二次電池用正極材料の微細構造解析
- ナノロッドを導入したPLD-Y系超電導線材の微細構造観察
- 収差補正電子顕微鏡によるゼオライト骨格微細構造の観察
- ナノスリット構造を有するゼオライト膜の構造解析
- 第一原理計算による結晶材料のゼーベック係数の理論評価
- AgNbO₃強誘電相転移の第一原理計算
- アルミナ粒界における欠陥生成の第一原理計算による検討
- 理論計算によるTiO₂薄膜におけるドメイン境界の構造・特性
- 収差補正モノクロメータSTEMによる高エネルギー分解能EELS測定
- 収差補正STEMを用いたネオジム磁石の超高分解能観察
- LiMn₂O₄単粒子特性のFIB-SEM三次元解析評価
- 走査型電子顕微鏡による高分子フィルムの微細構造解析
- 2012年度研究成果
- ARABF-STEM法による軽元素の直接観察
- リチウムイオン電池用固体電解質の原子構造観察
- 高電位正極活物質LiNi_0.5Mn_1.5O₄の電子構造解析
- リチウムイオン固体電解質の第一原理分子動力学計算
- ナノ粒子が分散した超電導線材の電子顕微鏡による微細構造解析
- 磁性体担持カーボンマイクロコイルの微細構造解析
- 理論計算によるゼオライト中の水分子吸着の解析
- 酸素ガスセンサにおける電極反応に関する第一原理計算
- 2011年度研究成果
- 環状明視野STEM法による水素原子の直接観察
- 電子線ホログラフィーによる全固体LI電池内部のその場電位計測
- 化学溶液法で作製したLiイオン電池用正極材料の微細構造解析
- Liイオン電池用正極材料LiCoO₂薄膜中の粒界構造解析
- 無機固体電解質LISICONにおけるLiイオン伝導の第一原理計算
- 酸化物系固体電解質における点欠陥濃度の第一原理計算
- イットリウム系超電導線材の電子顕微鏡による微細構造解析
- BaTiO₃中のMn固溶状態とそのMLCC信頼性への影響
2. 燃料電池・環境調和材料
- 2015年度研究成果
- 過熱水蒸気中におけるエポキシ樹脂の分解挙動解析
- 2014年度研究成果
- 過熱水蒸気を利用したセラミックス成形体の高速脱脂
- 炭素繊維-樹脂間の密着性に及ぼす過熱水蒸気へのガス添加効果
- 2013年度研究成果
- 過熱水蒸気を利用した炭素繊維－樹脂間の密着性の改善
- 高温クリーン過熱水蒸気処理装置の開発とその応用
- 2012年度研究成果
- 高性能SOFC開発のための燃料極/電解質界面構築の最適化
- ペロブスカイト多孔質球状粒子の新規合成プロセス
- 過熱水蒸気による炭素繊維強化プラスチックからの繊維回収
- 2011年度研究成果
- 燃料極/電解質界面反応の積極利用による高性能SOFC開発
- 4探針-SPMによるGDC粒内・粒界物性評価
- 高温クリーン過熱水蒸気の新しい利用技術の開発
3. 分離膜
- 2013年度研究成果
- セラミックス製ガス分離膜の最適構造設計
- 2012年度研究成果
- 親水性および耐久性を高めたゼオライト水分離膜の微細構造解析
- 2011年度研究成果
- 規則性ナノ多孔セラミックス分離膜開発への微細構造解析支援
4. コーティング・高温機能材料
- 2015年度研究成果
- 酸素トレーサーを用いたアルミナ膜中の物質移動解析
- 高温におけるムライト膜の酸素遮蔽性と構造安定性
- 輻射熱反射機能を有する耐環境性保護膜の酸素遮蔽性と構造安定化
- 2014年度研究成果
- 電子ビームPVDによる複雑形状部材への膜被覆性の均一化
- 高温酸素ポテンシャル勾配下における輻射熱反射膜の最適構造設計
- 2013年度研究成果
- 耐環境性に優れた輻射熱反射コーティングの創製
- レーザー援用高速CVDによる切削工具コーティング
- カチオン欠損を利用した耐熱性酸化物の低熱伝導化と構造安定化
- チタン酸アルミニウムセラミックスのガス遮蔽性制御
- 2012年度研究成果
- レーザーを用いた高速CVD技術
- 酸化保護膜中の物質移動に及ぼす粒界偏析元素効果
- 2011年度研究成果
- Si基系セラミックスのAl合金溶湯に対する耐付着性の改善
- アルミナ中のAlの粒界拡散制御
- 金属添加メソポーラスγ-アルミナの耐熱耐水蒸気特性
5. 電子・情報材料
- 2012年度研究成果
- 希土類フリーのメソポーラス発光色制御材料の開発
- 2011年度研究成果
- 次世代パワーデバイス用SiCの欠陥検出法の開発
- シリコンの酸炭化物からなる白色発光材料の開発
- 熱線反射のためのZnO透明導電膜への効果的なAl添加
- 希土類フリーメソポーラスカーボンシリカ発光材料の開発
6. 安全安心材料・バイオマテリアル
- 2015年度研究成果
- 人工ソーラー光源による太陽熱レシーバの効率評価
- 高性能電極触媒用多孔質球状粒子の開発
- PMMA骨セメント用の高生体活性な窒素含有酸化チタン粒子の開発
- 2014年度研究成果
- 太陽熱レシーバ評価のための人工光源シミュレータ開発
- 高い水酸化アパタイト形成能を有する生体用チタンの開発
- 2013年度研究成果
- 光による歪センサ～Cr添加SrAl₂O₄の蛍光発現と歪応答性～
- 電流検出型ジルコニアNOxセンサの高性能電極材料の開発
- 酸窒化処理チタンの医療応用へ向けた生物学的検討
- 2012年度研究成果
- 電流検出型ジルコニアNOxセンサの高性能電極材料開発
- 酸窒化処理による生体用チタンのアパタイト形成能の向上と安定化
- 2011年度研究成果
- ペロブスカイト型酸化物を用いた高感度NOxセンサの開発
- 自己診断材料の開発
7. 先端評価・解析
- 2015年度研究成果
- エッチング法によるSiC研磨ダメージ層の除去とエピ膜品質の向上
- レーザー加熱法による熱衝撃試験と破壊メカニズム解析
- 微小液滴を原料とする高圧力化学気相析出プロセスの開発
- エアロゾルデポジション法における原料粒子の特性と製膜性
- 多孔質材料の熱伝導率の雰囲気圧力依存性解析
- 2014年度研究成果
- LED用サファイア基板精密研磨のための電界CMP用複合砥粒開発
- SiC結晶切断方法によるダメージ導入の評価
- パワーデバイス用SiCウエハの低欠陥加工技術の開発
- La系ペロブスカイト酸化物多孔質球状粒子の開発
- レーザー加熱法によるサーメットの熱衝撃試験と解析
- エアロゾルデポジション法によるアルミナ膜の集合組織形成
- 高温ガス透過法に基づくセラミックス中の物質移動評価解析技術
- 2013年度研究成果
- リチウムイオン伝導性酸化物の短時間・低温合成技術
- 次世代パワーデバイス材料4H-SiCカーボン面転位検出技術の開発
- SiC結晶切断時の導入ダメージの評価と切断法による比較
- 大角度収束電子線回折法を併用したSiC欠陥の定量解析
- 遷移金属炭窒化物 (Me(C,N)) 微粒粉末の炭素熱還元合成
- 基材上に成膜されたコーティング膜の熱伝導率評価
- 超硬合金の粒成長ピン止め効果シミュレーションと実験研究
- 2012年度研究成果
- SiCウエハの高品質機械研磨法の開発
- 4H-SiCウエハ結晶内転位の解析
- 機械研磨により導入された4H-SiC表面転位のEBIC観察
- 大角度収束電子線回折法を用いたSiC単結晶中の転位解析
- 20011年度研究成果
- 高離型性を有する樹脂封止用型部材の開発
- 予備酸化による金属表面の高機能化
- SiCウエハの高品質機械研磨法の開発
- 多孔質球状シリカ微粒子を用いた超撥水性コーティング剤の開発
8. 開発プロジェクト
- 2013年度研究成果
- 低熱伝導率シリカエアロゲル透明体の合成と構造制御
- ナノ複合化によるガラス精密研磨用CMP砥粒の材料設計と開発
- 2012年度研究成果
- Al添加ZnO透明導電膜の遮熱機能と構造解析
- シリカナノ多孔質体の断熱性能評価と低熱伝導率化
- ナノ分散型複合砥粒のガラス研磨特性
- ガラス精密研磨における砥粒スラリーの劣化メカニズム解明
- 工具材料に適したチタン炭窒化物の物性と粉末合成技術
- 2011年度研究成果
- 真空断熱材開発を目指したナノ多孔質体の熱伝導率評価･解析
- タングステン超硬代替材料としての新規サーメットの開発
- Bサイト置換型鉄系ペロブスカイト酸化物のガラス研磨特性
最先端機器・技術紹介
- 2015年度研究成果
- 後方散乱電子回折法による結晶方位解析技術
- X線回折による結晶相同定
- 機能性材料の構造･化学結合の分析評価技術
- X線CT画像データを用いた三次元構造解析技術
- 積層構造体の断面SEM観察用試料調製技術
- デュアルビームFIB-SEM装置を用いた三次元解析技術
- 収差補正モノクロメータSTEMによる局所・高エネルギー分解能EELS測定
- 環境電子顕微鏡によるガス中ナノスケール解析
- 電子線ホログラフィーを用いた電子材料、磁性材料の定量観察
- ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
- 様々な焼結現象を模擬できる焼結シミュレーションソフトウェア
- 機械的特性の評価技術
- 高温高圧水環境下における水熱腐食、摩耗評価技術
- 多様な規格に対応した表面形状の評価技術
- マイクロ波～ミリ波における誘電特性と電波吸収特性の評価技術
- 誘電材料の温度特性評価技術
- 電気抵抗評価技術
- 固体材料の熱特性評価技術
- 粉体特性の評価技術
- サブナノ～ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
- 超高真空中破壊試験による材料組織内在ガスの質量分析
- エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
- ガラス精密研磨におけるCMP用スラリー寿命評価技術
- 燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
- SOFC用多孔質電極材料のガス透過率評価技術
- 走査型電子顕微鏡による無蒸着、低加速電圧試料表面観察技術
- 新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
- セラミックスの加工負荷低減高精度加工
- 電子ビームPVDによるセラミックスコーティング技術
- 噴霧熱分解法による高性能セラミックス粒子合成技術
- 液相合成によるナノ粒子合成技術
- 各種屈折率エアロゲルの合成
- 2014年度研究成果
- 超高分解能走査型電子顕微鏡による低加速・無蒸着観察技術
- デュアルビームFIB-SEM装置を用いた三次元解析技術
- 電子線ホログラフィーを用いた電子材料、磁性材料の定量観察
- 後方散乱電子回折法による結晶方位マッピング
- X線回折による結晶相同定
- ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
- 粉体特性の評価技術
- 液相合成によるセラミックス・金属微粒子合成技術
- 非破壊による材料評価技術
- マイクロ波～ミリ波における誘電特性と電波吸収特性の評価技術
- 電気特性評価（抵抗率）
- 燃料電池・固体電解質の電気化学特性評価技術
- SOFC用多孔質電極材料のガス透過率評価技術
- 機能性材料の構造･化学結合の分析評価技術
- 機械特性に関する材料評価技術
- 熱的特性評価技術 -熱伝導率・熱膨張率等の評価・解析-
- エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
- サブナノ～ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
- 高温高圧水環境下における評価技術（水熱腐食、摩耗）
- 破壊試験時に放出される材料中の微量ガス分析
- 新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
- 耐熱・耐環境厚膜から機能性薄膜までのコーティング技術
- シリカエアロゲルの製造と頒布
- セラミックスの高精度加工技術
- 2013年度研究成果
- 電子線ホログラフィーを用いた電子材料、磁性材料の定量計測
- 収差補正電子顕微鏡によるソフトマテリアル観察
- 環境顕微鏡　～高分解能観察・高温その場観察に優れた仕様～
- 並列クラスター計算機を用いた第一原理計算と材料設計
- デュアルビーム（FIB-SEM）装置を用いた三次元解析技術
- 高分解能走査型電子顕微鏡による表面微細構造観察
- 走査型電子顕微鏡（SEM）による太陽光パネル観察事例
- 材料開発の構造・化学結合設計を支援する分光分析技術
- 電子・光学薄膜材料の開発に貢献する電子・光物性評価技術
- ゼロ温度係数ウイルマイト基板のミリ波誘電特性評価
- LTCC用セラミックス基板等のマイクロ波誘電特性評価
- 積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
- 材料の熱伝導率評価技術　～薄膜試料から断熱材まで～
- パワーデバイス・青色LED開発を支援するSiCの欠陥分析技術
- 破壊試験時に放出される材料中の微量ガス分析
- ガス吸着・脱離挙動による多孔質材料の表面機能評価
- 高温・高湿度雰囲気のガスシール材の評価技術
- サブナノ～ミクロンオーダー細孔径分布測定による機能性評価
- 差分画像処理法を用いたX線透過試験による非破壊検査
- X線CTで撮影した3次元画像データを用いた内部構造の解析
- 噴霧熱分解法による高機能セラミックス微粒子の合成
- 断熱特性に優れたシリカエアロゲルの製造と頒布について
- 耐熱・耐環境厚膜から機能性薄膜までのコーティング技術
- 焼結材料開発を支援するシミュレーション技術
- セラミックスの研究と材料開発を支える高精度加工技術
- 新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
- ハニカム構造セラミックスの特性評価用試験片の作製
- 2012年度研究成果
- 電子線ホログラフィーを用いた電子材料、磁性材料の定量観察
- 環境顕微鏡～高分解能観察・高温その場観察に優れた仕様～
- デュアルビーム（FIB-SEM）装置を用いた三次元解析技術
- 高分解能走査型電子顕微鏡による表面微細構造観察
- 収差補正電子顕微鏡によるソフトマテリアル観察
- ゼロ温度係数ウイルマイト基板のミリ波誘電特性評価
- X線を用いた非破壊検査技術
- 材料の熱伝導率評価技術～薄膜試料から断熱材まで～
- 材料開発の構造・化学結合設計を支援する分光分析技術
- パワーデバイス・青色LED開発を支援するSiCの欠陥分析技術
- 薄膜材料の電子・光物性評価技術
- ガス吸着・脱離挙動による多孔質材料の表面機能評価
- サブナノ～ミクロンオーダー細孔径分布測定による機能性評価
- 耐熱・耐環境厚膜から機能性薄膜までのコーティング技術
- 噴霧熱分解法による高機能セラミックス微粒子合成
- 材料開発や製造工程問題解決のための焼結シミュレーション
- セラミックス研究を支える高精度加工技術
- 第一原理計算による材料設計
- 2011年度研究成果
- 電子線ホログラフィーを用いた材料、デバイスの電場、磁場観察
- 環境顕微鏡～高分解能観察に優れた仕様～
- 環境顕微鏡～高温･常圧その場観察を可能にする仕様～
- FIB-SEMデュアルビーム装置を用いた三次元解析技術
- 高分解能走査型電子顕微鏡による表面微細構造観察
- 携帯電話等に使われる3GHz付近の高精度な誘電特性評価
- 発光材料開発の構造・化学結合設計を支援する分光分析技術
- パワーデバイス・青色LED開発を支援するSiCの欠陥分析技術
- 薄膜材料の電子・光物性評価技術
- 材料の信頼性評価技術 -機械特性評価と非破壊検査の融合-
- 材料の熱的性質評価技術 -熱伝導率・熱膨張率等の評価・解析-
- ガス吸着・脱離挙動による多孔質材料の表面機能評価
- サブナノ～ミクロンオーダー細孔径分布測定による機能性評価
- 第一原理計算による材料設計
- 噴霧熱分解法による高機能セラミックス微粒子合成
- 耐熱・耐環境厚膜から機能性薄膜までのコーティング技術
- 材料開発のための焼結シミュレーションと各種焼結技術
- 材料開発を支える高精度加工技術
論文リスト（2023年）

受賞紹介

特許紹介

受託研究

試験評価

試験評価

機器利用

機器利用
- 機器利用標準料金表

標準物質

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